これまで
担当者がMES・AOI・SPI・実装機ログから手作業でデータを集め、会議は数字の確認で終わる。
これから
会議は「打ち手の判断」に。原因特定が早くなり、判断の根拠が残る。
1
Detect
夜間に不良率上昇と不良モードの偏りを検知
2
Analyze
印刷・実装・リフロー条件、号機、部品ロットとの関係を解析
3
Propose
根拠・信頼度つきの報告書を会議前に配信
歩留まり解析レポート
イメージ不良分布(基板マップ)
原因候補と信頼度
- リフロー炉 #1 温度プロファイル82%
- はんだロット A-2354%
- 実装機 #4 吸着ノズル31%







